產(chǎn)品資料
日本napson熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器
產(chǎn)品名稱: 日本napson熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器
產(chǎn)品型號(hào): PN-12α
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器樣品的導(dǎo)電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來(lái)確定兼容單晶硅晶片，塊和錠對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。
日本napson熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器 的詳細(xì)介紹
日本napson熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器
熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器
產(chǎn)品名稱：PN-12α
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制）
產(chǎn)品特點(diǎn)
樣品的導(dǎo)電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來(lái)確定
兼容單晶硅晶片，塊和錠
*對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量對(duì)象
與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料有關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
測(cè)量尺寸
30x30mm以上
測(cè)量范圍
可用于PN測(cè)定的樣品電阻率范圍：1 m至20kΩ·cm
*不能部分確定多晶硅，帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態(tài)或被氧化的樣品
熱電動(dòng)勢(shì)接觸式PN探測(cè)器
產(chǎn)品名稱：PN-12α
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制）
產(chǎn)品特點(diǎn)
樣品的導(dǎo)電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來(lái)確定
兼容單晶硅晶片，塊和錠
*對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量對(duì)象
與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料有關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
測(cè)量尺寸
30x30mm以上
測(cè)量范圍
可用于PN測(cè)定的樣品電阻率范圍：1 m至20kΩ·cm
*不能部分確定多晶硅，帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態(tài)或被氧化的樣品
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