日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品名稱: 日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
光學(xué)膜和透明涂層的理想選擇
型號(hào)托福
測(cè)量方式非接觸型/光譜干擾型
測(cè)量目標(biāo)電子和光學(xué)透明透明薄膜，多層薄膜
測(cè)量原理光譜干擾類型

日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S 的詳細(xì)介紹

日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點(diǎn)

高測(cè)量重復(fù)性（±0.01μm或更小，取決于目標(biāo)物體和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線類型以及在制造過程中使用的在線類型
反射型可從膠片的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
可以僅測(cè)量透明涂層（取決于測(cè)量條件）

日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	1至50μm（對(duì)于薄材料），10至150μm（對(duì)于厚材料）
測(cè)量長度	50-5000毫米
測(cè)量間距	1毫米?
小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100伏50/60 Hz
工作溫度范圍	5至45°C（測(cè)量期間溫度變化在1°C以內(nèi)）
濕度	35-80％（無凝結(jié)）
測(cè)量面積	φ0.6毫米
測(cè)量間隙	約30毫米

金屬板的理想選擇TOF-M

產(chǎn)品特點(diǎn)

測(cè)量帶狀金屬板的厚度變化
通過自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量重復(fù)性
測(cè)量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)保存在PC上

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	0.1-0.5毫米
測(cè)量長度	10-1800毫米
測(cè)量間距	0.1毫米?
小顯示值	0.1微米
測(cè)量壓力	0.45±0.25 N以下
電源電壓	AC100V 50/60赫茲
工作溫度范圍	5-40℃
濕度	30-80％（無凝結(jié)）
耗電量	50 VA（不包括PC）