技術(shù)文章
影像學(xué)檢查在基板和金屬表面缺陷檢測上的運用
影像學(xué)檢查在基板和金屬表面缺陷檢測上的運用
光學(xué)分辨率1.8μm，速度檢測！用于基板和金屬表面的缺陷檢測！
概述
使用高分辨率相機和高精度 XY 載物臺的二維檢測系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率，可以進行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。
特征
自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素：900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測點。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。
用法
用于檢查觸摸面板和異物等缺陷！
觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃傷和異物檢查
基板缺陷檢查
產(chǎn)品目錄
聯(lián)系我們
聯(lián)系人：林經(jīng)理
地址：深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
Email：akiyama_linkkk@163.com
郵編：
QQ：909879999
地址：深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
Email：akiyama_linkkk@163.com
郵編：
QQ：909879999
在線客服