透明或者半透明薄膜的膜厚測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用技術(shù)
一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、價(jià)格低廉、用途廣泛的臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),已安裝了 5,000 多臺(tái)。它可用于從研發(fā)到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量的廣泛應(yīng)用。
F20可以在1秒左右輕松測(cè)量透明或半透明薄膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)。
它還支持多點(diǎn)在線測(cè)量,并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信,因此可以從PLC或上位機(jī)控制。
支持廣泛的薄膜厚度(1 nm 至 250 μm)
支持寬波長(zhǎng)范圍(190nm 至 1700nm)
強(qiáng)大的膜厚分析
光學(xué)常數(shù)分析(折射率/消光系數(shù))
緊湊型外殼
支持在線測(cè)量
平板 | 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR薄膜、 各種光學(xué)薄膜等 |
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半導(dǎo)體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等 |
光學(xué)鍍膜 | 減反射膜、硬涂層等 |
薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等 | |
醫(yī)療保健 | 鈍化、藥物涂層等 |
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