Si 晶片內(nèi)部檢查檢測(cè)用近紅外鹵素光源SIS-150 -NIR介紹
SIS-150 (-NIR / -AIR)
近 紅外線照射裝置
在近紅外線區(qū)域具有峰值的光纖光源裝置。
通過使用專用光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)近紅外區(qū)域具有靈敏度的相機(jī),它
非常適合非破壞性檢查,例如 Si 晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
專用選件
* 可加裝波長(zhǎng)選擇帶通濾波器
* 可加裝機(jī)械快門 * 可加裝
256級(jí)數(shù)字調(diào)光板
* 模數(shù)調(diào)光板(控制電壓(0-5V))
* 并聯(lián)調(diào)光板(并行8bit數(shù)字信號(hào)))
* 串口調(diào)光板(RS232C串口8bit數(shù)字信號(hào))
模型 | SIS-150-NIR | SIS-150-AIR |
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額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
額定輸入頻率 | 50 / 60Hz | 50 / 60Hz |
照明方式 | 直流點(diǎn)燈方式 | 直流點(diǎn)燈方式 |
光強(qiáng)調(diào)節(jié) | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍:DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍:0.1% 至 100% | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍:DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍:0.1% 至 100% |
保護(hù)功能 | 過流保護(hù)電路(重新上電恢復(fù)) 過熱保護(hù)電路(自動(dòng)恢復(fù)) | 過流保護(hù)電路(重新上電恢復(fù)) 過熱保護(hù)電路(自動(dòng)恢復(fù)) |
冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 |
工作溫度/濕度 | 0℃-40℃/20%-80%RH(但無冷凝) | 0℃-40℃/20%-80%RH(但無冷凝) |
功能 | 燈斷信號(hào)輸出:集電極/發(fā)射極開路 模擬信號(hào)電壓調(diào)光:DC0-5V輸入 遠(yuǎn)程燈ON/OFF:通過施加DC5V關(guān)閉 | 燈斷信號(hào)輸出:集電極/發(fā)射極開路 模擬信號(hào)電壓調(diào)光:DC0-5V輸入 遠(yuǎn)程燈ON/OFF:通過施加DC5V關(guān)閉 |
外形尺寸 | W124 x H165 x D224 mm(尺寸不包括突出部分) | W124 x H165 x D224 mm(尺寸不包括突出部分) |
重量 | 約2.7公斤 | 約2.7公斤 |
照射波長(zhǎng) | 400-1100nm | 400-1700nm |
峰值波長(zhǎng) | 800nm | 1000nm |
光導(dǎo) | 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 | 專用耐熱光導(dǎo) |
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